Kokios yra atsargumo priemonės politetrafluoretileno plokščių elektrinės izoliacijos savybių tikrinimui elektroniniu mikroskopu

1. Mėginio paruošimo etapas
Valymas: valydami politetrafluoretileno plokštelių mėginius, pasirinkite tinkamas valymo priemones ir nenaudokite tirpiklių, kurie gali sugadinti arba užteršti mėginius. Pavyzdžiui, kai kurie labai poliniai tirpikliai gali sąveikauti su politetrafluoretilenu ir pakeisti jo paviršiaus savybes.
Valymo procesas turi būti švelnus ir vengti subraižyti mėginio paviršių, nes paviršiaus įbrėžimai gali turėti įtakos elektros izoliacijos savybių vertinimui ir gali duoti klaidinančius elektroninės mikroskopijos stebėjimų rezultatus.
Mėginių pjovimas ir tvirtinimas: Pjaudami mėginius, reikia naudoti aštrius įrankius, kad būtų užtikrintas tvarkingas pjūvis ir išvengta mikroskopinių įtrūkimų ar įtempių koncentracijos sričių. Šiuos defektus galima supainioti su problemomis, susijusiomis su elektros izoliacijos savybėmis stebint elektronų mikroskopiją.
Tvirtindami mėginius, pasirinkite tinkamus tvirtinimo būdus ir medžiagas, kad mėginiai būtų stabilūs elektroninio mikroskopo mėginio kameroje ir nejudėtų dėl vibracijos ar kitų veiksnių. Tuo pačiu metu tvirtinimo medžiaga negali paveikti pavyzdžio elektros izoliacijos savybių.
2. Elektroninio mikroskopo veikimo etapas
Pagreičio įtampos pasirinkimas: Skenuojančiam elektroniniam mikroskopui (SEM) ir perdavimo elektronų mikroskopui (TEM) reikia pasirinkti tinkamą pagreičio įtampą, atsižvelgiant į mėginio charakteristikas ir aptikimo tikslą. Per didelė pagreičio įtampa gali sukelti elektronų pluošto pažeidimą mėginio paviršiuje, ypač naudojant palyginti minkštas medžiagas, tokias kaip politetrafluoretilenas.
Vakuuminės aplinkos įtaka: elektroniniai mikroskopai dažniausiai veikia didelio vakuumo aplinkoje, o politetrafluoretilenas vakuumo sąlygomis gali išskirti nedidelį kiekį dujų arba lakiųjų medžiagų. Tai gali turėti įtakos elektroninio mikroskopo vakuuminiam laipsniui ir netgi užteršti elektroninę optinę sistemą.
Prieš dedant mėginį į elektroninį mikroskopą, mėginys gali būti tinkamai iš anksto apdorotas, pvz., tam tikrą laiką iš anksto evakuoti žemo vakuumo aplinkoje, kad sumažėtų mėginio dujų išsiskyrimas elektroniniame mikroskope.
Elektronų pluošto švitinimo laikas: Dėl ilgalaikio elektronų pluošto švitinimo politetrafluoretileno mėginiai gali įkaisti, todėl pasikeis jų fizinės savybės ir elektros izoliacijos savybės. Todėl reikėtų kiek įmanoma sutrumpinti elektronų pluošto apšvitinimo laiką arba taikyti pertrūkius stebėjimo metodus, siekiant sumažinti bandinio šiluminį poveikį.
3. Rezultatų analizės etapas
Vaizdo interpretavimas: analizuojant elektroninio mikroskopo vaizdus, ​​svarbu atskirti bruožus, kurie tikrai yra susiję su elektros izoliacijos savybėmis, ir iliuzijas, kurias sukelia tokie veiksniai kaip mėginio paruošimas ir elektroninio mikroskopo veikimas. Pavyzdžiui, paviršiaus užterštumas, krūvio kaupimasis ir t. t. vaizde gali sukurti laidaus kanalo iliuziją. Duomenų patikimumas: elektroninės mikroskopijos rezultatams gali turėti įtakos daugelis veiksnių, pvz., individualūs mėginių skirtumai, elektroninės mikroskopijos įrangos veikimo skirtumai ir kt. Todėl norint pagerinti duomenų patikimumą ir tikslumą, reikia atlikti kelis pakartotinius eksperimentus.
Jei norite sužinoti atsargumo priemones, skirtas politetrafluoretileno plokščių elektros izoliacijos savybių tikrinimui elektroniniu mikroskopu, galite susisiekti su Tongtong ir mes padarysime viską, kad jums padėtume!